蝸牛紋的出現是一個綜合的過程，EVA膠膜中的助劑、電池片表面銀漿構成、電池片的隱裂以及體系中水份的催化等因素都會對蝸牛紋的形成起促進作用，而蝸牛紋現象的出現也不是必然，而是有它偶然的引發(fā)因素。EVA膠膜配方中包含交聯(lián)劑，抗氧劑，偶聯(lián)劑等助劑，其中交聯(lián)劑一般采用過氧化物來引發(fā)EVA樹脂的交聯(lián)，由于過氧化物屬于活性較高的引發(fā)劑，如果在經過層壓后交聯(lián)劑還有較多殘留的話，將會對蝸牛紋的產生有引發(fā)和加速作用。

膠膜使用助劑都有純度的指標，一般來說純度要求要在99.5%以上。助劑中的雜質主要是合成中的副產物以及合成中的助劑殘留，以小分子狀態(tài)存在，沸點較高，無法通過層壓抽真空的方法從體系中排除，所以助劑如果純度不高，那么這些雜質也將會影響EVA膠膜的穩(wěn)定性，可能會造成蝸牛紋的出現。

組件影響：

1.紋路一般都伴隨著電池片的隱裂出現。

2.電池片表面被氧化。

3.影響了組件外觀。

預防措施：

1.膠膜使用符合純度指標的助劑。

2.安裝過程中對組件的輕拿輕放有足夠認識。